產品中心
PRODUCTS CNTER
產品簡介
MCP 有效面積：42 mm 直徑MCP 為檢測和放大來自電子、離子、真空紫外線、X 射線和 γ 射線的信號提供空間信息。
相關文章
| 型號 | F2225-21PGF |
| 通道尺寸 | 12 μm |
| MCP 級 | 2 |
| 形狀 | 圓形 |
| 陽極變化 | 熒光屏 |
| 組件外徑 | 150 mm 直徑 |
| MCP 有效面積 | 42 mm 直徑 |
| 真空法蘭安裝 | 標準 |
| 備注 | 帶真空法蘭 |
| 增益 | 1×106 |
| 暗計數（最高） | 3 s-1·cm-2 |
| MCP 供壓 | 2.0 kV |
| MCP 輸出到陽極供壓 | 4.0 kV |
MCP 的輸出電子在涂有磷的玻璃板上轉換成可見光。單級 MCP 的空間分辨率為 40 μm 至 50 μm，兩級 MCP 的空間分辨率為 80 μm 至 100 μm。標準熒光粉為 P43（峰值發射波長：545nm，衰減時間：1ms）
上海波銘科學儀器有限公司
上海波銘科學儀器有限公司成立于 2013 年，是一家專注于光學電學領域的創新型公司。我們致力于通過技術和服務為客戶提供優質的產品和服務，滿足不斷變化的市場需求。
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區疊橋路456弄創研智造C7區五樓
Copyright © 2026 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業文化 榮譽資質 聯系我們快速通道
產品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 RU120便攜式拉曼光譜儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統
當前位置：
產品分類
上一個：
返回列表